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摘要：一种基于TESEC测试机的三电平拓扑测试电路。所述基于TESEC测试机的三电平拓扑测试电路包括检测机接口单元，模块单元，以及辅助单元。所述检测机接口单元包括电压控制模块，以及电流控制模块。IGBT管的集电极、栅极、发射极分别与所述电压控制模块和所述电流控制模块连接。所述辅助单元包括DPST继电器组件，以及SPDT继电器组件。所述DPST继电器组件的输入端与IGBT管的集电极和栅极连接，所述SPDT继电器组件的输出端与IGBT管的集电极和发射极连接，输入端和所述电压控制模块连接。通过控制对应电压接口来控制继电器切换电路，从而使对应的IGBT管单独导通，从而实现通过测试机单独检测的功能。

主权项：1.一种基于TESEC测试机的三电平拓扑测试电路，其特征在于：所述基于TESEC测试机的三电平拓扑测试电路包括一个检测机接口单元，一个与所述检测机接口单元电性连接的模块单元，一个与所述检测机接口单元和所述模块单元电性连接的辅助单元，所述检测机接口单元包括电压控制模块，以及电流控制模块，所述电压控制模块包括二十四个电压接口，所述电流控制模块包括二十四个电流接口，所述模块单元包括IGBT管Q1，IGBT管Q2，IGBT管Q3，IGBT管Q4，IGBT管Q5，IGBT管Q6，二极管D1，二极管D2，二极管D3，二极管D4，二极管D5，以及二极管D6，每一个所述IGBT管的集电极、栅极、发射极分别与所述电压控制模块和所述电流控制模块连接，所述IGBT管Q1的发射极与所述IGBT管Q2的集电极连接，所述IGBT管Q2的发射极与所述IGBT管Q3的集电极连接，所述IGBT管Q3的发射极与所述IGBT管Q4的集电极连接，所述IGBT管Q5的集电极与所述IGBT管Q1和所述IGBT管Q2的连接处连接，所述IGBT管Q5的发射极与所述IGBT管Q6的集电极连接，所述IGBT管Q6的发射极与所述IGBT管Q3和所述IGBT管Q4的连接处连接，每一个IGBT管并联有一个二极管，每一个所述二极管的负极与所述IGBT管的集电极连接，每一个所述二极管的正极与所述IGBT管的发射极连接，所述辅助单元包括第一继电器电源BAT2，第二继电器电源BAT3，DPST继电器组件，以及SPDT继电器组件，所述第二继电器电源BAT3具有多个且数量与DPST继电器数量相同，其正负极分别与DPST继电器的两个输出端连接，所述DPST继电器组件的输出端与所述第二继电器电源BAT3连接，所述DPST继电器组件的输入端与所述模块单元的多个IGBT管的集电极和栅极连接，所述DPST继电器组件的线圈两端分别与所述第一继电器电源BAT2和电压控制模块连接，所述DPST继电器组件包括第一DPST继电器RL-Q1，第二DPST继电器RL-Q2，第三DPST继电器RL-Q3，所述第一DPST继电器RL-Q1的两个输入端分别与第十五电流接口I15和第十六电流接口I16连接，所述第一DPST继电器RL-Q1的线圈两端分别与所述第一继电器电源BAT2和第六电压接口V6连接，所述第二DPST继电器RL-Q2的两个输入端分别与第二十二电流接口I22和第十九电流接口I19连接，所述第二DPST继电器RL-Q2的线圈两端分别与所述第一继电器电源BAT2和第七电压接口V7连接，所述第三DPST继电器RL-Q3的两个输入端分别与第十八电流接口I18和第十九电流接口I19连接，所述第三DPST继电器RL-Q3的线圈两端分别与所述第一继电器电源BAT2和第八电压接口V8连接，所述SPDT继电器组件的输出端与所述模块单元的IGBT管的集电极和发射极连接，输入端和所述电压控制模块连接，所述SPDT继电器组件的线圈两端分别与所述第一继电器电源BAT2和所述电压控制模块连接，所述SPDT继电器组件包括第一SPDT继电器RL-Q1C，第二SPDT继电器RL-Q2E，第三SPDT继电器RL-Q3C，以及第四SPDT继电器RL-Q4E，所述第一SPDT继电器RL-Q1C的输入端与第一电压接口V1连接，两个输出端分别与第十六电压接口V16和所述IGBT管Q1的集电极连接，所述第二SPDT继电器RL-Q2E的输入端与所述第三SPDT继电器RL-Q3C的输出端连接，两个输出端分别与第十六电压接口V16和所述IGBT管Q2的发射极连接，所述第三SPDT继电器RL-Q3C的输入端与第二电压接口V2连接，两个输出端分别与第十九电压接口V19和所述第二SPDT继电器RL-Q2E的输入端连接，所述第四SPDT继电器RL-Q4E的输入端与第三电压接口V3连接，两个输出端分别与第十九电压接口V19和所述IGBT管Q4的发射极连接。

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