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申请/专利权人：无锡众星微系统技术有限公司
申请日：2024-09-06
公开（公告）日：2024-12-03
公开（公告）号：CN119068962A
专利技术分类：..容限测试，例如，竞争、电压或电流测试[2006.01]
专利摘要：本申请提供了一种DDR压测装置及DDR压测方法，该DDR压测装置包括：DDR控制器和DDRPHY；其中，DDR控制器中内嵌访问生成引擎单元、测试码型产生逻辑单元、数据对比逻辑单元；访问生成引擎单元用于在DDR压测过程启动后产生对配置地址范围的写访问；配置地址范围为预先配置的DDR存储阵列中的任意存储地址范围；测试码型产生逻辑单元在DDR压测过程启动后产生测试码型，并将测试码型存储在访问生成引擎单元的写数据队列中；写访问完成后，访问生成引擎产生对配置地址范围的读访问，数据对比逻辑单元截取读访问对应的返回数据，并利用所述返回数据进行数据校验，并计算得到误码率。
专利权项：1.一种DDR压测装置，其特征在于，包括：DDR控制器和DDRPHY；其中，所述DDR控制器中内嵌访问生成引擎单元、测试码型产生逻辑单元和数据对比逻辑单元；所述DDRPHY为所述DDR控制器和DDR存储阵列之间的接口；所述访问生成引擎单元用于在DDR压测过程启动后产生对配置地址范围的写访问；所述配置地址范围为预先配置的所述DDR存储阵列中的任意存储地址范围；所述测试码型产生逻辑单元用于在DDR压测过程启动后产生测试码型，并将测试码型存储在所述访问生成引擎单元的写数据队列中；所述写访问完成后，所述访问生成引擎产生对所述配置地址范围的读访问，所述数据对比逻辑单元从所述DDR控制器与所述DDRPHY之间的数据流截取所述读访问对应的返回数据，并利用所述返回数据进行数据校验，并计算得到误码率。
百度查询： 无锡众星微系统技术有限公司 DDR压测装置及DDR压测方法
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