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摘要:本申请公开了一种静电放电测试设备及测试方法,属于测试领域。本申请提供的静电放电测试设备包括:端口配置单元、控制单元、测量单元以及静电放电发生器;端口配置单元具有与待测芯片的目标管脚相连的输入端、与测量单元相连的第一输出端、与静电放电发生器相连的第二输出端以及与控制单元相连的控制端;控制单元用于分别输出第一配置信号或者第二配置信号至端口配置单元,使得端口配置单元控制待测芯片的目标管脚分别与测量单元或者静电放电发生器电连接。本申请采用端口配置单元配置待测芯片的目标管脚与测量单元或者静电放电发生器的连接关系,可以实现静电放电测试以及电信号的测试一体化,无需频繁插拔待测芯片的目标管脚,提高了测试效率。
主权项:1.一种静电放电测试设备,其特征在于,包括:端口配置单元110、控制单元120、与所述控制单元相连接的测量单元130以及与所述控制单元相连接的静电放电发生器140;所述端口配置单元110具有输入端、第一输出端、第二输出端以及控制端;所述端口配置单元110的输入端与待测芯片的目标管脚相连;所述端口配置单元110的第一输出端与所述测量单元130相连;所述端口配置单元110的第二输出端与所述静电放电发生器140相连;所述端口配置单元110的控制端与所述控制单元120相连;所述控制单元120用于输出第一配置信号至所述端口配置单元110,使得所述端口配置单元110控制所述待测芯片的目标管脚与所述测量单元130电连接;所述控制单元120用于输出第二配置信号至所述端口配置单元110,使得所述端口配置单元110控制所述待测芯片的目标管脚与所述静电放电发生器140电连接;所述测量单元130用于对待测芯片的电信号进行测试;所述静电放电发生器140用于对待测芯片进行静电放电测试。
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