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面向元器件批量测试的探针装置、测试装置及测试方法 

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摘要:本发明涉及电子元器件测试技术领域,尤其是指面向元器件批量测试的探针装置、测试装置及测试方法,其中,所述探针装置包括PCB电路板和多个金属探针,所述PCB电路板上设有呈矩阵阵列分布的多个测试单元,每个金属探针的一端连接所述测试单元,其另一端连接被测元器件;其中,所述测试单元包括LED驱动单元、熔断器和直流电源,所述LED驱动单元的输出端通过所述金属探针连接被测元器件,其输入端通过所述熔断器连接所述直流电源的输出端。本发明能够同时批量检测被测电子元件,提高测试效率。

主权项:1.一种面向元器件批量测试的探针装置,其特征在于,包括:PCB电路板,所述PCB电路板上设有呈矩阵阵列分布的多个测试单元;以及多个金属探针,每个金属探针的一端连接所述测试单元,其另一端连接被测元器件;其中,所述测试单元包括LED驱动单元、熔断器和直流电源,所述LED驱动单元的输出端通过所述金属探针连接被测元器件,其输入端通过所述熔断器连接所述直流电源的输出端。

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