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摘要：本发明公开了一种顶盖双密封圈缺陷识别方法和系统，其方法通过获取多个待识别顶盖，并分别测量初始极柱高度；按照预设的温度时长条件对各待识别顶盖进行加热，得到中间顶盖；测量各中间顶盖的更新极柱高度；若初始极柱高度与更新极柱高度之间的高度差大于预设的缺陷阈值，则判定更新极柱高度所属中间顶盖出现双密封圈缺陷。从而通过极柱高度在加热前后的变化情况，能够快速且准确地识别极柱所属顶盖是否出现双密封圈缺陷，及时对顶盖进行筛选剔除，有效避免后续出现安全隐患。
主权项：1.一种顶盖双密封圈缺陷识别方法，其特征在于，包括：获取多个待识别顶盖，并分别测量初始极柱高度；按照预设的温度时长条件对各所述待识别顶盖进行加热，得到中间顶盖；测量各所述中间顶盖的更新极柱高度；若所述初始极柱高度与所述更新极柱高度之间的高度差大于预设的缺陷阈值，则判定所述更新极柱高度所属中间顶盖出现双密封圈缺陷；所述方法还包括：在分别测量初始极柱高度之前，测量各所述待识别顶盖的初始气密性数据；测量所述高度差未大于所述缺陷阈值的中间顶盖对应的更新气密性数据；若所述初始气密性数据和所述更新气密性数据之间的气密差大于预设的气密阈值，则判定所述更新气密性数据所属中间顶盖出现双密封圈缺陷。
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