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申请/专利权人：武汉理工大学
申请日：2024-11-15
公开（公告）日：2024-12-17
公开（公告）号：CN119147047A
专利技术分类：.用不包括在其他单个小类中的装置来测量两个或更多个变量[2006.01]
专利摘要：本发明提出了滑动轴承油膜压力‑温度双参量测量装置及方法，其中，该测量装置包括驱动装置、主轴承载组件、主轴、负载、压力温度传感器、解调仪和上位机；主轴承载组件包括基座、两个滚动轴承座、两个滚动轴承、滑动轴承座和滑动轴承；压力温度传感器安装于滑动轴承上；解调仪分别与压力温度传感器和上位机电信号连接；上位机用于根据光谱数据进行拟合运算得到FP腔的腔长以及FBG的中心波长，并根据预设规则得到腔长对应的油膜压力、中心波长对应的油膜温度。通过压力温度传感器为基于FP‑FBG的传感器，不会形成温度‑压力交叉影响，从而可以减小误差，且抗干扰能力强，耐久性和稳定性较好；尺寸小，滑动轴承的开孔较小，可以减少对滑动轴承的破坏。
专利权项：1.一种滑动轴承油膜压力-温度双参量测量装置，其特征在于，包括驱动装置、主轴承载组件、主轴、负载、压力温度传感器、解调仪和上位机，其中：所述主轴承载组件包括基座、两个滚动轴承座、两个滚动轴承、滑动轴承座和滑动轴承，两个滚动轴承座间隔安装于基座上，滚动轴承安装于滚动轴承座中，主轴安装于两个滚动轴承中，滑动轴承座安装在基座上，滑动轴承安装于滑动轴承座中，主轴穿过滑动轴承，主轴一端与驱动装置连接，另一端与所述负载连接；所述压力温度传感器安装于所述滑动轴承上，所述压力温度传感器为基于FP和FBG的传感器，用于将采集的滑动轴承所受到的油膜压力和油膜温度转换成光信号，并输出至解调仪；所述解调仪分别与所述压力温度传感器和所述上位机电信号连接，用于记录所述光信号并转换为光谱数据供上位机调取；所述上位机用于调取解调仪的光谱数据，并根据所述光谱数据进行拟合运算得到FP腔的腔长以及FBG的中心波长，并根据预设规则得到腔长对应的油膜压力、中心波长对应的油膜温度。
百度查询： 武汉理工大学 一种滑动轴承油膜压力-温度双参量测量装置及方法
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