买专利卖专利找龙图腾,真高效! 查专利查商标用IPTOP,全免费!专利年费监控用IP管家,真方便!
申请/专利权人:工业和信息化部电子第五研究所
申请日:2013-12-18
公开(公告)日:2014-03-26
公开(公告)号:CN103675020A
专利技术分类:.通过测量热的变化,即量热法,例如通过测量比热,测量热导率[2006.01]
专利摘要:本发明公开了一种电子组件发射率检测系统,包括调温系统和热像仪,所述调温系统包括用于将电子组件与外界环境隔离的恒温装置和基于空气热对流调节所述电子组件的温度的控温单元,所述恒温装置上设置有红外探测窗,所述热像仪用于通过所述红外探测窗检测电子组件的红外辐射能。实施本发明的系统,通过恒温装置将电子组件与外界环境隔离,通过控温单元用于基于空气热对流调节由各种材料和元器件组成的电子组件的温度,并在恒温装置上设置红外探测窗,实现精确调控所述电子组件各组成部分的温度,同时对多种材料同步测量,可提高所得发射率的精确度。
专利权项:一种电子组件发射率检测系统,其特征在于,包括调温系统和热像仪,所述调温系统包括用于将电子组件与外界环境隔离的恒温装置和基于空气热对流调节所述电子组件的温度的控温单元,所述恒温装置上设置有红外探测窗,所述热像仪用于通过所述红外探测窗检测电子组件的红外辐射能。
百度查询: 工业和信息化部电子第五研究所 电子组件发射率检测系统
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。