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申请/专利权人：中国计量大学
申请日：2017-11-27
公开（公告）日：2018-03-13
公开（公告）号：CN107796521A
专利技术分类：.应用与参考源作比较的方法，例如，隐丝高温计[2022.01]
专利摘要：本发明涉及阵列式发射率参考物，包括长方体金属基底，矩形槽，矩形翅，对称线，所述长方体金属基底上表面存在一系列矩形槽和矩形翅，所述长方体金属基底表面存在一根对称线。本发明通过设计阵列式发射率参考物，能够作为参考物在红外测温技术领域提供比较广泛的发射率区间，并提供连续可选的表面单元，可选的表面单元在工作温度区间内有连续稳定的发射率，其对称式结构可使温场更加稳定，对该阵列式发射率参考物标定后可作为发射率参考样品，小巧简单，操作方便。
专利权项：本发明涉及阵列式发射率参考物，包括长方体金属基底1，矩形槽2，矩形翅3，对称线4，其特征在于：所述长方体金属基底1上表面存在一系列矩形槽2和矩形翅3，在长方体金属基底1表面存在一根对称线4。
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