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硅和硅锗纳米线结构专利

发布时间:2019-03-08 10:09:30 来源:龙图腾网 导航: 龙图腾网> 最新专利技术> 硅和硅锗纳米线结构

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申请/专利权人:英特尔公司

申请日:2011-11-23

公开(公告)日:2013-08-07

公开(公告)号:CN103238208A

专利技术分类:......带有绝缘栅的[2006.01]

专利摘要:描述了形成微电子结构的方法。这些方法的实施例包括形成纳米线器件,该纳米线器件包括:衬底,衬底包括位于间隔物附近的源极漏极结构;以及位于间隔物之间的纳米线沟道结构,其中纳米线沟道结构在彼此之上垂直地层叠。

专利权项:一种形成器件的方法,包括:在衬底上形成外延硅锗;在所述外延硅锗上形成外延硅;对布置在所述外延硅锗上的外延硅布图以形成鳍结构;横跨和在所述鳍结构上形成间隔物;从所述衬底上的源极漏极区去除所述鳍结构的一部分,然后在所述源极漏极区上形成源极漏极结构,其中所述源极漏极区位于所述间隔物附近;以及从位于所述间隔物之间的鳍结构去除所述硅层和外延硅锗层中的一者。

百度查询: 英特尔公司 硅和硅锗纳米线结构

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