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申请/专利权人：深圳佰维存储科技股份有限公司
申请日：2019-12-30
公开（公告）日：2020-10-30
公开（公告）号：CN211826353U
专利技术分类：.电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）[2006.01]
专利摘要：本实用新型公开了一种DDR测试主板和DDR测试平台，其中DDR测试主板包括并联设置的多个测试模块；测试模块包括控制单元、指示单元、按钮单元和接口单元；接口单元，用于连接待测试的DDR芯片；按钮单元，用于接收上电操作；控制单元，与外部电源相连接，用于接收外部电源传输的供电电源，并在接收到上电操作时，导通与DDR芯片的连接，对DDR芯片进行测试，发送指示指令给指示单元；指示单元，用于根据指示指令指示不同的测试结果。通过本实用新型的DDR测试主板，测试人员不但可以同时对多个DDR芯片进行测试，而且能够通过指示灯直观快速地获知测试结果。因此，本实用新型相比现有技术大大提高了测试效率。
专利权项：1.一种DDR测试主板，其特征在于，包括并联设置的多个测试模块；所述测试模块包括控制单元以及与所述控制单元电连接的指示单元、按钮单元和接口单元；所述接口单元，用于连接待测试的DDR芯片；所述按钮单元，用于接收上电操作；所述控制单元，与外部电源相连接，用于接收所述外部电源传输的供电电源，并在接收到所述上电操作时，导通与所述DDR芯片的连接，对所述DDR芯片进行测试，发送指示指令给所述指示单元；所述指示单元，用于根据所述指示指令指示不同的测试结果。
百度查询： 深圳佰维存储科技股份有限公司 DDR测试主板和DDR测试平台
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