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申请/专利权人：深圳市精泰达科技有限公司
摘要：本申请涉及一种PCIe测试治具Lane自动切换方法及装置，属于PCIe接口测试技术的领域，自动切换包括以下步骤：S1：将测试治具接到待测背板的PCIe接口上；S2：将测试治具、多路切换开关、示波器、MCU和上位机连接好，其中，测试治具lane1‑laneN的信号线分别和多路切换开关的输入口一一对应连接；S3：进入lane测试，示波器抓取测试波形，并将测试波形发送给上位机；S4：是否完成测试，若是则进入S5，若否，则返回S3；S5：上位机发送切换指令给MCU，MCU控制多路切换开关切换到下一个lane数据信号输出；S6：重复S3‑S5步骤，直到完成所有lane的测试。本申请具有提高了测试效率的效果。
主权项：1.一种PCIe测试治具Lane自动切换方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：将测试治具100接到待测背板的PCIe接口上；S2：将测试治具100、多路切换开关200、示波器300、MCU和上位机400连接好，其中，测试治具100lane1-laneN的信号线分别和多路切换开关200的输入口一一对应连接；S3：进入lane测试，示波器300抓取测试波形，并将测试波形发送给上位机400；S4：是否完成测试，若是则进入S5，若否，则返回S3；S5：上位机400发送切换指令给MCU，MCU控制多路切换开关200切换到下一个lane数据信号输出；S6：重复S3-S5步骤，直到完成所有lane的测试。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 深圳市精泰达科技有限公司 一种PCIe测试治具Lane自动切换方法及装置
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