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申请/专利权人：机械工业仪器仪表综合技术经济研究所
摘要：本发明公开了基于可靠性框图的随要求率和检测方案变化的PFD算法，结合工程实际，考虑随检验测试方案和功能要求率变化对其的影响，能够将整个计算过程中涉及到所有元件的设备信息和失效数据以及计算结果都可通过软件系统生成可靠性框图报表，便于清晰的展示SIF回路的可靠性框图，并通过展示出PFD和MTTF得出回路中各元件随机失效概率和架构约束对整体功能的影响，最终确定SIF回路随机失效概率PFD、风险降低因子RRF、随机失效的SIL、架构约束的SIL和SIF回路SIL等级；对于不同的表决结构MooN，开展安全仪表系统SIF回路进行建模计算，可以有效提高SIF回路计算平均失效概率PFD的结果的准确性。
主权项：1.基于可靠性框图的随要求率和检测方案变化的PFD算法，其特征在于，包括以下步骤：S110、将构建可靠性框图的安全仪表功能SIF回路中所有元件进行模块划分归类，每个元件对应划分到传感单元、逻辑单元和执行单元；S120、根据传感单元、逻辑单元和执行单元中各元件的表决结构MooN搭建的多层可靠性框图模型；S130、根据传感单元、逻辑单元和执行单元各元件的失效数据分别计算各单元的安全失效分数SFF和硬件故障裕度HFT，从而得到SIF回路架构约束SIL；S140、根据不同的表决结构并基于元件的参数计算传感单元、逻辑单元和执行单元要求时的随机失效概率PFD；S150、根据传感单元、逻辑单元和执行单元各自要求时的随机失效概率PFD，得到SIF回路的随机失效概率PFD、风险降低因子RRF、随机失效的SIL、架构约束的SIL和SIF回路SIL等级；S160、根据计算后得到的SIF回路的随机失效概率PFD、风险降低因子RRF、随机失效的SIL、架构约束的SIL和SIL等级，可以由软件自动生成SIL验证工作的可靠性框图报表和SIF一览表。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 机械工业仪器仪表综合技术经济研究所 基于可靠性框图的随要求率和检测方案变化的PFD算法
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