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摘要：本发明涉及激光器芯片检测领域，具体涉及一种基于双MPD监控的激光器芯片老化监控装置。所述激光器芯片老化监控装置包括激光芯片载体、MPD芯片载体、耦合透镜支架和基座；其中，所述激光芯片载体和两MPD芯片载体分别并列设置在基座上；所述耦合透镜支架包括两个支脚；所述MPD芯片载体上装载有MPD芯片，所述激光芯片载体上装载有待监控的激光器芯片。本发明的有益效果在于，与现有技术相比，本发明提供一种激光器芯片老化监控装置，快速、便捷、准确实现激光器芯片的老化监控，为选型待测激光器芯片提供了老化功能和测试功能。
主权项：1.一种基于双MPD监控的激光器芯片老化监控装置，其特征在于，所述激光器芯片老化监控装置包括激光芯片载体、MPD芯片载体、耦合透镜支架和基座；其中，所述激光芯片载体和两MPD芯片载体分别并列设置在基座上，且所述激光芯片载体设置在两MPD芯片载体之间；所述耦合透镜支架包括两个支脚，两所述支脚上均设置有耦合透镜，并固设在基座上且分别设置在激光芯片载体和一MPD芯片载体之间；所述MPD芯片载体上装载有MPD芯片，所述激光芯片载体上装载有待监控的激光器芯片，所述激光器芯片在通电后产生激光光束并分别向前后两个方向发射，一所述光束经过一耦合透镜耦合至一MPD芯片上，且另一所述光束经过另一耦合透镜耦合至另一MPD芯片上。
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百度查询： 昂纳科技(深圳)集团股份有限公司 一种基于双MPD监控的激光器芯片老化监控装置
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