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申请/专利权人：杭州领策科技有限公司
摘要：本发明公开了一种多Site模式的集成电路测试方法及测试系统，属于集成电路测试领域，方法包括：基于测试机提供的测试站和分选机提供的测试工位和通信口对被测件进行测试操作，经过测试操作被测件被分选为良品或不良品，其中不良品送入不良品料管；响应于复测指令，基于测试机提供的测试站和分选机提供的测试工位和通信口对不良品料管中的被测件进行测试操作，并基于测试机提供的复测控制模块根据测试操作结果判断分选机和测试机的信号线连接关系。本发明采用简单的复测方式实现集成电路测试系统的防呆测试，以避免产生被测件错误识别的情况。
主权项：1.一种多Site模式的集成电路测试方法，其特征在于，所述多Site模式的集成电路测试方法，包括：基于测试机提供的测试站和分选机提供的测试工位和通信口对被测件进行测试操作，经过测试操作被测件被分选为良品或不良品，其中不良品送入不良品料管；响应于复测指令，基于测试机提供的测试站和分选机提供的测试工位和通信口，对不良品料管中的被测件进行测试操作，并基于测试机提供的复测控制模块根据测试操作结果判断分选机和测试机的信号线连接关系。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 杭州领策科技有限公司 一种多Site模式的集成电路测试方法及测试系统
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