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申请/专利权人：英业达科技有限公司;英业达股份有限公司;英业达集团(天津)电子技术有限公司

摘要：一种适用于DDR5SDRAMDIMM插槽的检测系统及其方法，第一检测板以及第二检测板形成串接，当检测装置生成DIMM检测指令，由JTAG控制器转换为JTAG格式的DIMM检测指令，再通过转接电路板提供JTAG格式的DIMM检测指令至对应的第一检测板或是第二检测板以依据DIMM检测指令进行对应待测试电路板的DDR5SDRAMDIMM插槽检测，借此可以达成提高DDR5SDRAMDIMM连接接口检测效率的技术功效。

主权项：1.一种适用于DDR5SDRAMDIMM插槽的检测系统，包含：一待测试电路板，具有至少两个适用于第五代双倍数据率同步动态随机存取存储器DDR5SDRAM的双列直插式存储器模块DIMM插槽；一第一检测板，具有一第一DIMM连接接口、一第一C型通用序列总线USB-C连接接口以及一第二USB-C连接接口，所述第一检测板通过所述第一DIMM连接接口插接于所述待测试电路板的所述至少两个DDR5SDRAMDIMM插槽其中之一；一第二检测板，具有一第二DIMM连接接口、一第三USB-C连接接口以及一第四USB-C连接接口，所述第二检测板通过所述第二DIMM连接接口插接于所述待测试电路板的所述至少两个DDR5SDRAMDIMM插槽其中之一，所述第三USB-C连接接口与所述第二USB-C连接接口形成电性连接；一转接电路板，具有一USB-C连接接口以及一联合测试工作群组JTAG连接接口，所述USB-C连接接口与所述第一USB-C连接接口形成电性连接，所述转接电路板提供所述USB-C连接接口以及所述JTAG连接接口的数据转换；一JTAG控制器，具有至少一个JTAG插接接口以及一外部装置连接接口，所述至少一个JTAG插接接口提供所述JTAG连接接口插接形成电性连接；及一检测装置，具有一连接接口，所述连接接口提供与所述外部装置连接接口形成电性连接；其中，所述第一检测板与所述第二检测板形成串接，所述检测装置生成一DIMM检测指令，由所述JTAG控制器转换为JTAG格式的DIMM检测指令，再通过所述转接电路板提供JTAG格式的DIMM检测指令至对应的所述第一检测板以及所述第二检测板以依据所述DIMM检测指令同时进行对应所述待测试电路板的所述DDR5SDRAMDIMM插槽检测。

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