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申请/专利权人：北京确安科技股份有限公司
摘要：本发明公开了一种集成电路测试中site的管控方法及系统，涉及集成电路领域。该方法包括：步骤1，获取bin值排序文件；步骤2，统计集成电路并行测试中每个bin值在不同site下出现的个数，生成统计表；步骤3，根据所述bin值排序文件，对统计表中不符合要求的数据进行剔除，生成优化后的统计表；步骤4，根据优化后的统计表计算bin值百分比；步骤5，根据所述bin值百分比判断site是否可控。本发明能够解决统计百分比时仍然以site总Die数或晶圆总Die数作为基数计算某个bin的百分比，则会导致统计数据失真的问题，达到减少site间差误判漏判问题，提高了生产管控能力，及时发现测试过程趋势性问题，避免了客户损失的效果。
主权项：1.一种集成电路测试中site的管控方法，其特征在于，包括：步骤1，获取bin值排序文件；步骤2，统计集成电路并行测试中每个bin值在不同site下出现的个数，生成统计表；步骤3，根据所述bin值排序文件，对统计表中不符合要求的数据进行剔除，生成优化后的统计表；步骤4，根据优化后的统计表计算bin值百分比；步骤5，根据所述bin值百分比判断site是否可控；步骤2具体为：统计每个bin值在不同site间出现的个数，生成第一数据，统计每个site下的不同bin值的个数，生成第二数据，根据所述第一数据及所述第二数据生成统计表；步骤3具体为：根据所述bin值排序文件，依次对每一个bin值进行测试，当测试结果为错误时，从发生错误的bin值的第一数据中删除该bin值之前的所有测试结果为错误的bin值的第一数据，得到第三数据，根据所述第三数据生成优化后的统计表；步骤5具体为：根据所述bin值百分比，计算site间的差值，将差值与阈值进行比较，若在范围内，则，site可控，bin值正常，若不在范围内，则，site不可控，bin值异常。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 北京确安科技股份有限公司 一种集成电路测试中site的管控方法及系统
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