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申请/专利权人：海豚乐智科技(成都)有限责任公司;电子科技大学重庆微电子产业技术研究院

摘要：本发明公开了一种基于SOPC的单周期坏点补偿与非均匀校正方法，涉及图像处理技术领域，所述方法包括：获取红外图像传感器图像的坏点序列标记和非均匀校正系数；对图像中的任意一点进行坏点判断并标记；ARM处理器通过AXI总线将坏点标记后的非均匀校正系数按顺序以32位的浮点数的数据格式存储到DDR3存储单元中；单周期计算模块产生AXI总线控制信号，按照图像的输入时序，按照64bits的形式一个周期从DDR3存储单元中读出数据；单周期计算模块采用SOPC的可编程逻辑资源在单个像素周期内完成坏点补偿与非均匀校正计算。本发明充分利用SOPC的结构特点在单芯片内完成了红外图像的坏点补充和非均匀校正处理，减小了设备体积和功耗。

主权项：1.一种基于SOPC的单周期坏点补偿与非均匀校正方法，其特征在于，应用在基于SOPC处理器架构上，所述基于SOPC处理器架构包括ARM处理器、单周期计算模块、AXI总线和DDR3存储单元，ARM处理器和单周期计算模块均通过AXI总线与DDR3存储单元连接；所述方法包括：步骤1：获取红外图像传感器图像的坏点序列标记和非均匀校正系数gu,v,ou,v，gu,v表示红外传感器在位置（u,v）上的比例校正系数，ou,v表示红外传感器在位置（u,v）上的偏置校正系数；步骤2：对图像中的任意一点进行坏点判断并标记；步骤3：ARM处理器通过AXI总线将坏点标记后的非均匀校正系数gu,v’,ou,v’按顺序以32位的浮点数的数据格式存储到DDR3存储单元中；步骤4：单周期计算模块产生AXI总线控制信号，按照图像的输入时序，按照64bits的形式一个周期从DDR3存储单元里面读出数据，其中高32bits为gu,v’，低32bits为ou,v’；步骤5：单周期计算模块采用SOPC的可编程逻辑资源在单个像素周期内完成坏点补偿与非均匀校正计算；所述步骤3中以32位的浮点数的数据格式存储的非均匀校正系数包括1bit符号位S，其中0代表正，1代表为负；所述单周期计算模块具体包括：定点转浮点模块，输入图像数据img_data_in和图像数据有效信号dval_in，将8bits16bits的定点图像数据转换为float32格式的第一图像数据img_data1，同时将dval_in信号延迟后输出为第一有效信号dval1，并与浮点图像数据img_data1同步输出；浮点乘法器模块，当gu,v’的符号位S=0时，浮点乘法器有效信号dval2=dval1，浮点乘法器输出第二图像数据img_data2=img_data1×gu,v’，并同步输出浮点加法器有效信号dval3；当gu,v’的符号位S=1时，浮点乘法器有效信号dval2=’0’,浮点乘法器输出保持上一个有效时钟的结果；浮点加法器模块，同步输入浮点加法器有效信号dval3和第二图像数据img_data2，浮点加法器输出第三图像数据img_data3=ou,v’+img_data2，并同步输出第二有效信号dval4；浮点转定点模块，同步输入第二有效信号dval4和第三图像数据img_data3，输出8bits16bits的图像数据img_data_out；延迟模块，原dval信号延迟特定的时钟周期T后输出图像数据有效信号dval_out。

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