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申请/专利权人：财团法人工业技术研究院
申请日：2022-11-25
公开（公告）日：2024-04-02
公开（公告）号：CN117804330A
专利技术分类：
专利摘要：本发明提供一种量测卡、量测系统及量测方法，量测系统包括摄像器及处理器。摄像器用以采集量测卡的量测卡影像，量测卡影像包括多个特征图案影像。处理器电性连接摄像器且用以分析此些特征图案影像，以取得各特征图案影像的特征点的特征点坐标；以及，输入此些特征点坐标于转换矩阵，以取得量测卡的尖端的尖端坐标。
专利权项：1.一种量测卡，其特征在于，包括：本体，具有相对的侧边与尖端；以及多个特征图案，形成于该本体；其中，该多个特征图案满足下列二情况中至少一者：该多个特征图案的第一个与第二个沿通过该侧边与该尖端的参考轴具有第一间距，该多个特征图案的该第二个与第三个沿该参考轴具有第二间距，而该第一间距与该第二间距相异；以及该多个特征图案相对该参考轴呈非对称配置。
百度查询： 财团法人工业技术研究院 量测卡、量测系统及量测方法
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皖公网安备 34010402703815号