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申请/专利权人：武汉睿芯特种光纤有限责任公司
摘要：本实用新型涉及光纤结构的几何参数测试技术领域，提供一种用于折射率相近的光纤结构的几何参数测试装置，包括光源、特定光纤、图像采集系统和数据处理系统；特定光纤的一端指向光源，另一端和待测光纤连接；待测光纤包括第一纤芯结构、待测外纤芯层和第一包层，第一纤芯结构包括待测内纤芯层；特定光纤包括由第二纤芯结构和第二包层，第二纤芯结构包括特定纤芯层，任意相邻的两层特定纤芯层的透光率均不同，任意待测内纤芯层均存在特定纤芯层与其对应，任意待测内纤芯层均与其对应的特定纤芯层对齐；数据处理系统与图像采集系统连接。本实用新型通过将特定光纤与待测光纤进行连接，解决了现有技术中无法对折射率相近的光纤结构进行区分的问题。
主权项：1.一种用于折射率相近的光纤结构的几何参数测试装置，其特征在于，包括：光源、特定光纤、图像采集系统和数据处理系统；所述特定光纤的一端指向所述光源，另一端用于与待测光纤的第一端连接，所述待测光纤的第二端指向所述图像采集系统，所述图像采集系统用于采集所述待测光纤的第二端的图像数据；所述待测光纤包括由内至外依次设置的第一纤芯结构、待测外纤芯层和第一包层，所述第一纤芯结构包括至少一层待测内纤芯层；所述特定光纤包括由内至外依次设置的第二纤芯结构和第二包层，所述第二纤芯结构包括至少一层特定纤芯层，在所述特定纤芯层的数量为多层的情况下，任意相邻的两层所述特定纤芯层的透光率均不同，任意所述待测内纤芯层均存在一层所述特定纤芯层与其对应，在所述特定光纤与所述待测光纤的第一端连接的情况下，任意所述待测内纤芯层均恰好与其对应的所述特定纤芯层对齐；所述数据处理系统与所述图像采集系统连接。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 武汉睿芯特种光纤有限责任公司 用于折射率相近的光纤结构的几何参数测试装置
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