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申请/专利权人:深圳市联润丰电子科技有限公司
摘要:公开了一种芯片测试设备及芯片测试设备的控制方法。其首先将多个预定时间点的电压值、电流值、功耗值和温度值分别进行排列和特征提取以得到性能参数时序关联特征图,接着,将所述性能参数时序关联特征图进行特征展开并进行性能参数间关联拓扑特征分析以得到性能参数间关联拓扑特征矩阵,然后,对所述性能参数局部时序特征向量的序列和所述性能参数间关联拓扑特征矩阵进行关联编码以得到关联拓扑全局性能参数特征,最后,基于所述关联拓扑全局性能参数特征,确定所述被测试芯片的性能是否符合预定标准并响应于分类结果为所述被测试芯片的性能不符合预定标准,暂停所述芯片测试设备并发出预警提示信号。这样,可以确保芯片的制造质量和效率。
主权项:1.一种芯片测试设备,其特征在于,包括:探针;控制器,用于设置控制参数来控制所述探针的工作;显示屏,用于显示由所述探针检测到的芯片检测数据和芯片性能检测结果。
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