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申请/专利权人:南京埃米仪器科技有限公司
摘要:本发明公开了一种压阻自感应式原子力显微镜系统,包括基体还包括粗动调节机构、微动调节机构和控制器,粗动调节机构设置在基体内,微动调节机构设置在基体上与粗动调节机构连接,控制器与设置在基体上的控制板连接,通过控制器对探针与晶圆的接触位置进行改变,控制器根据探针与晶圆接触探针变形量的反馈值,表征待检测样品的力学性能。优点,利用设置在Z扫描器中的探针安装架安装探针,更换时直接从探针安装架上进行探针的拆装,不需要光学系统,更换探针过程中不需要频繁校准激光点与探针悬臂梁背面之间位置,提高了换针效率,利用控制器接收的探针变形量的反馈值控制探针在Z方向的移动,通过探针变形的反馈值得出检测样品的力学性能表征。
主权项:1.一种压阻自感应式原子力显微镜系统,包括基体(1)其特征在于:还包括粗动调节机构(2)、微动调节机构(3)和控制器(6),粗动调节机构(2)设置在基体(1)内,所述粗动调节机构(2)对待检测的晶圆在X、Y方向进行粗调,对检测晶圆的探针在Z方向进行粗调;微动调节机构(3)设置在基体(1)上与粗动调节机构(2)连接,所述微动调节机构(3)对待检测的晶圆在X、Y方向进行微调,对检测晶圆的探针在Z方向进行微调,用于控制粗动调节机构(2)和微动调节机构(3)的控制器(6)通过导线(61)与设置在基体(1)上的控制板连接,通过所述控制器(6)对探针与晶圆的接触位置进行改变,另外控制器(6)根据探针与晶圆接触时,探针变形量的反馈值,表征待检测样品的力学性能。
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