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芯片检测方法、芯片检测装置 

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申请/专利权人:浙江正泰仪器仪表有限责任公司

摘要:本发明涉及芯片检测技术领域,公开了芯片检测方法、芯片检测装置,芯片检测方法是基于刷写至待检测芯片的故障检测程序实现的;芯片检测方法:对待检测芯片的通信串口进行故障检测;在通信串口不存在故障时,对待检测芯片的GPIO引脚进行故障检测;对待检测芯片的ADC引脚进行故障检测;对待检测芯片的其他串口进行故障检测。本发明对待检测芯片上各个硬件功能和各个外设功能进行点检测试,达到快速定位芯片故障位置的目的。

主权项:1.一种芯片检测方法,其特征在于,所述方法是基于刷写至待检测芯片的故障检测程序实现的,所述方法包括:对所述待检测芯片的通信串口进行故障检测;在所述通信串口不存在故障时,对所述待检测芯片的GPIO引脚进行故障检测;对所述待检测芯片的ADC引脚进行故障检测;对所述待检测芯片的其他串口进行故障检测。

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权利要求:

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