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申请/专利权人：深圳思凯测试技术有限公司
摘要：本实用新型属于液晶模组老化测试技术领域，尤其为一拖多LVDS或eDP信号老化测试治具，包括信号主板、信号桥接板1、信号桥接板2以及信号桥接板n，信号主板输出端连接有信号桥接板1，信号桥接板1输出端连接有信号桥接板2，信号桥接板2输出端连接有信号桥接板n，信号主板包括MCU主控制器、FPGA模块、LVDSeDP信号转换器、主电源输入接口、电源输出接口以及LVDSeDP信号输出接口，信号桥接板1、信号桥接板2以及信号桥接板n包括MCU控制器、2路可编程电源、LVDSeDP信号一分二模块、电源输入接口、LVDSeDP信号输入接口、电源输出接口以及LVDSeDP信号输出接口。本实用新型将LVDSeDP信号复制扩展一分为二；同时将电源、信号扩展板组合成一个独立的模块，实现信号电源的扩展方式。
主权项：1.一拖多LVDS或eDP信号老化测试治具，包括信号主板、信号桥接板1、信号桥接板2以及信号桥接板n，所述信号主板输出端连接有信号桥接板1，所述信号桥接板1输出端连接有信号桥接板2，所述信号桥接板2输出端连接有信号桥接板n，其特征在于：所述信号主板包括MCU主控制器、FPGA模块、LVDSeDP信号转换器、主电源输入接口、电源输出接口以及LVDSeDP信号输出接口，所述信号桥接板1、信号桥接板2以及信号桥接板n包括MCU控制器、2路可编程电源、LVDSeDP信号一分二模块、电源输入接口、LVDSeDP信号输入接口、电源输出接口以及LVDSeDP信号输出接口。
全文数据：
权利要求：
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