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集成超透镜的GaAs基单行载流子光电探测器 

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申请/专利权人:清华大学

摘要:本发明公开了一种集成超透镜的GaAs基单行载流子光电探测器,包括半导体部、金属电极和超透镜,半导体部包括自下而上同轴设置的衬底、缓冲层、n型接触层、非故意掺杂收集层、非故意掺杂吸收层、p型吸收层、p型势垒层和p型接触层,其中,非故意掺杂吸收层和p型吸收层的径向尺寸相同且小于衬底、缓冲层、n型接触层、非故意掺杂收集层、p型势垒层和p型接触层的径向尺寸;超透镜设置在p型接触层的上方,用于将入射光斑会聚到p型吸收层和非故意掺杂吸收层。本发明能同时兼顾短距离光互连系统中大带宽和高响应度。

主权项:1.一种集成超透镜的GaAs基单行载流子光电探测器,其特征在于,包括:半导体部,所述半导体部包括自下而上同轴设置的衬底、缓冲层、n型接触层、非故意掺杂收集层、非故意掺杂吸收层、p型吸收层、p型势垒层和p型接触层,其中,所述非故意掺杂吸收层和所述p型吸收层的径向尺寸相同且小于所述衬底、所述缓冲层、所述n型接触层、所述非故意掺杂收集层、所述p型势垒层和所述p型接触层的径向尺寸;金属电极,所述金属电极分为p型金属电极和n型金属电极,所述p型金属电极与p型接触层相连,所述n型金属电极与所述n型接触层相连;超透镜,所述超透镜集成在所述p型接触层的上方,用于将入射光斑会聚到所述p型吸收层和所述非故意掺杂吸收层。

全文数据:

权利要求:

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