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申请/专利权人：信霖微智电子(上海)有限公司

摘要：本发明技术方案公开了一种校准系数的获取方法、TDS检测方法和装置。所述校准系数的获取方法使用若干种不同的TDS标准溶液，包括：获取至少两组TDS测量值，每组TDS测量值包括一种TDS标准溶液在若干采样时间的TDS测量值；综合比较所述至少两组TDS测量值和对应的TDS标准值，设定相对TDS标准值偏差最小的TDS测量值对应的采样时间为实际采样时间；获取各TDS标准溶液分别在实际采样时间的TDS测量值；根据各TDS标准值与对应的TDS测量值的比值确定TDS校准系数。本发明技术方案能够自适应各类探针，确保不同批次探针的精度一致，在保证测试精度的同时，降低产品成本，并且能够拓展测量范围。

主权项：1.一种校准系数的获取方法，其特征在于，使用n种不同的TDS标准溶液，其中，n种TDS标准溶液的TDS标准值排序为TDS1、TDS2、……、TDSn-1、TDSn，n≥3；所述校准系数的获取方法包括如下步骤：获取至少两组TDS测量值，每组TDS测量值包括一种TDS标准溶液在m个采样时间t1、t2、……、tm的TDS测量值，m≥3，获取TDS标准溶液在采样时间的TDS测量值采用电极电导率检测法；综合比较所述至少两组TDS测量值和对应的TDS标准值，设定相对TDS标准值偏差最小的TDS测量值对应的采样时间tc为实际采样时间，1≤c≤m；获取各TDS标准溶液分别在实际采样时间tc的TDS测量值TDS1c、TDS2c、……、TDSn-1c、TDSnc；根据各TDS标准值与对应的实际采样时间tc的TDS测量值的比值确定TDS校准系数F1、F2、……、Fn-1、Fn；其中，获取至少两组TDS测量值包括获取两组TDS测量值，一组TDS测量值包括TDSx标准溶液在m个采样时间t1、t2、……、tm的TDS测量值TDSx1、TDSx2、……、TDSxm，另一组TDS测量值包括TDSx+1标准溶液在m个采样时间t1、t2、……、tm的TDS测量值TDSx+11、TDSx+12、……、TDSx+1m，1≤x≤n-1；所述实际采样时间tc设定如下：计算|TDSxTDSxa-TDSx+1TDSx+1a|，a从1～m取值，取最小计算值时a取值对应的采样时间ta，则tc＝ta；或者，计算TDSxTDSxa+TDSx+1TDSx+1a2，a从1～m取值，取最小计算值时a取值对应的采样时间ta，则tc＝ta；或者，计算||TDSxa-TDSx|TDSx-|TDSx+1a-TDSx+1|TDSx+1|，a从1～m取值，取最小计算值时a取值对应的采样时间ta，则tc＝ta；或者，计算|TDSxa-TDSx|TDSx+|TDSx+1a-TDSx+1|TDSx+1|2，a从1～m取值，取最小计算值时a取值对应的采样时间ta，则tc＝ta。

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