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申请/专利权人:苏州大学
摘要:本发明涉及一种基于条纹反射的凸面物体形貌、角度及光谱测量方法与装置。在条纹反射术和衍射光学相位编码技术的基础上,使用柔性屏以及配套的变形控制装置在快速投影条纹图的同时,实时反馈调整屏幕面型,提升投影条纹图的正弦性和频率一致性;利用单片微衍射光学元件阵列调制反射条纹光场,实现了衍射光场成像;采用基于神经网络的消色差技术,有效抑制了微衍射光学元件阵列面内色散的影响,提升了绝对相位恢复和三维重构精度;采用基于神经网络的光谱成像技术,利用了衍射光学元件阵列一级衍射面内色散信息,实现了系统工作谱段内的清晰光谱成像;采用基于神经网络的超分辨技术,在保留角度信息的同时,提高待测物体多维数据中的空间分辨率。
主权项:1.一种基于条纹反射的凸面物体形貌、角度及光谱测量装置,其特征在于:它包括投影显示模块(1)、成像探测模块(2)、载物平台(3)、数据传输模块(4)和控制-计算处理器(5);所述的成像探测模块(2)包括面阵相机(21)、微衍射光学元件阵列(22)和滤光片(23);所述待测凸面物体(6)放置于载物平台(3)上,成像探测模块(2)聚焦在待测凸面物体(6)表面上;所述数据传输模块(4)包括数据传输线(41、42和43);所述的投影显示模块(1)包括柔性屏(11)以及配套的变形控制装置(12),柔性屏(11)通过数据传输线(41)实现与控制-计算处理器(5)的交互控制和数据传输,变形控制装置(12)通过数据传输线(43)接受控制-计算处理器(5)的反馈控制信息,调制柔性屏(11)的面型;所述的投影显示模块(1)中的柔性屏(11)、成像探测模块中的相机(21)、微衍射光学元件阵列(22)和滤光片(23)与待测凸面物体(6)之间构成共轴型测量光路结构;所述的投影显示模块(1)将预设条纹图投射成像到待测凸面物体(6)的表面,经待测凸面物体(6)表面调制后的条纹图被成像探测模块(2)采集,成像探测模块(2)将采集的条纹图通过数据传输线(42)输入到控制-计算处理器(5);所述的控制-计算处理器(5)包括控制模块、三维重构模块、光谱重构模块和超分辨模块。
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权利要求:
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