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申请/专利权人：中国科学院微电子研究所
摘要：一种用于闪存的数据恢复方法，包括：采用预设读电压从闪存中读取数据；计算数据对应的校验节点出错率；根据校验节点出错率，计算读电压调整步长；根据读电压调整步长调整预设读电压，采用调整后的预设读电压从闪存中读取数据，并重复计算数据对应的校验节点出错率的操作至根据读电压调整步长调整预设读电压的操作，直至校验节点出错率最小；选择最小的校验节点出错率对应的读电压从闪存中读取数据，以进行数据恢复。该方法可动态调整读电压调整的步长，从而减小重读纠错算法中最佳读电压搜索所需要的时间，并且减少不必要地ECC译码，从而减小数据恢复所需要的时间。
主权项：1.一种用于闪存的数据恢复方法，包括：采用预设读电压从所述闪存中读取数据；计算所述数据对应的校验节点出错率；根据所述校验节点出错率，计算读电压调整步长，包括：基于所述闪存的阈值电压分布态，建立所述校验节点出错率与误码率的函数关系以及所述误码率与所述读电压调整步长的函数关系；根据所述校验节点出错率与所述误码率的函数关系、所述误码率与所述读电压调整步长的函数关系，建立所述校验节点出错率与所述读电压调整步长的函数关系；根据所述校验节点出错率与所述读电压调整步长的函数关系，计算所述读电压调整步长；根据所述读电压调整步长调整所述预设读电压，采用调整后的预设读电压从所述闪存中读取数据，并重复所述计算所述数据对应的校验节点出错率的操作至所述根据所述读电压调整步长调整所述预设读电压的操作，直至所述校验节点出错率最小；选择最小的校验节点出错率对应的读电压从所述闪存中读取数据，以进行数据恢复。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学院微电子研究所 用于闪存的数据恢复方法
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