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用于检测低折射率分析物的双峰PCF-SPR探针 

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申请/专利权人:东北石油大学

摘要:本发明属于光纤应用技术领域,具体涉及一种用于检测低折射率分析物的双峰PCF‑SPR探针,所述用于检测低折射率分析物的双峰PCF‑SPR探针由光子晶体光纤和两根金纳米线组成;所述光子晶体光纤的两侧设有对称分布的两个U型开口,两个U型开口的中心对称线的光纤包层内设有4个小孔气孔,小孔气孔的两侧设有对称分布的4组空气孔,4组空气孔呈正四边形矩阵排布,每组空气孔的4个大空气孔呈正四边形矩阵排布;所述的两根个金纳米线位于U型开口内。光子晶体光纤为折射率引导型光子晶体光纤,其背景材料为二氧化硅。该探针适用于低折射率分析物的检测,灵敏度高,具有双共振峰特性,可广泛应用在生物传感领域,尤其是药物检测方面。

主权项:1.一种用于检测低折射率分析物的双峰PCF-SPR探针,其特征在于:所述用于检测低折射率分析物的双峰PCF-SPR探针由光子晶体光纤和两根金纳米线组成;所述光子晶体光纤的两侧设有对称分布的两个U型开口,两个U型开口的中心对称线的光纤包层内设有4个小孔气孔,小孔气孔的两侧设有对称分布的4组空气孔,4组空气孔呈正四边形矩阵排布,每组空气孔的4个大空气孔呈正四边形矩阵排布;所述的两根个金纳米线位于U型开口内;所述光子晶体光纤的半径为14μm-18μm;所述金纳米线的半径为0.25μm-0.45μm;所述U型开口的最大开口处的宽度为6μm-8μm,U型开口的深度为5μm-6μm;所述大空气孔的半径为1.7μm-2.3μm;所述小空气孔的半径为0.8μm-1.2μm;所述光子晶体光纤为折射率引导型光子晶体光纤,其背景材料为二氧化硅。

全文数据:

权利要求:

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