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申请/专利权人：上海芯圣电子股份有限公司
摘要：本发明公开了一种MCU工作模式下进入测试模式的方法，涉及芯片测试技术领域，包括以下步骤：当MCU在工作模式或sleep模式下，升高VDD令VCC_IN发送一个高电平，MCU检测到高电平进入VCC电平变化中断，间隔时间后VCC发送一个低电平，高低电平组成进入带电模式命令的START位；通过VCC高低变化发送进入带电测试模式命令，VCC电平状态保持500ns到1us后改变，则会将改变前的VCC电平状态锁存到带电测试模式命令寄存器中。本发明可以直接通过芯片的充电数据线通过更新固件的方式直接重新烧录程序，省去拆除芯片重新烧录的麻烦，而且旧产品可以通过在线的方式更新程序，已经拥有产品的用户也可以便捷的更新自己手中的成品。
主权项：1.一种MCU工作模式下进入测试模式的方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一：当MCU在工作模式或sleep模式下，升高VDD令VCC_IN发送一个高电平，MCU检测到高电平进入VCC电平变化中断，间隔时间后VCC发送一个低电平，高低电平组成进入带电模式命令的START位；步骤二：通过VCC高低变化发送进入带电测试模式命令，VCC电平状态保持500ns到1us后改变，则会将改变前的VCC电平状态锁存到带电测试模式命令寄存器中，若VCC状态保持过长或过短将退出带电模式命令状态；步骤三：利用移位寄存器，锁存32’h5a5a55aa后，debug_req置起，进入测试模式，可以进行烧录或测试模式操作；若连续锁存三个VCC_IN低电平或三个高电平，或命令输入错误，则会退出带电测试模式命令输入，需要重新发送START信号；步骤四：当测试模式下，与测试模式相关的IO将自动切换为数字输入输出模式，为实现通过外部灌入指令的方法操作CPU指令和对存储器的读写；发送退出测试模式命令后，可以退出测试模式，退出后整个系统进行复位，重新加载otpion后重新进入工作模式。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 上海芯圣电子股份有限公司 一种MCU工作模式下进入测试模式的方法
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