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申请/专利权人：合肥六角形半导体有限公司
摘要：本实用新型提供一种Tray盘检测治具，用于对芯片外观检测，包括Tray盘，所述Tray盘中间为检测放置台，两侧为斜面检测台；所述斜面检测台向外倾斜，其放置斜面和检测放置台之间夹角为45°；所述斜面检测台和检测放置台连接处预留让位槽，所述让位槽形状为弧形，且匹配所述芯片引脚。本新型的Tray盘检测治具，解决了现有检测设备产品平放于显微设备下，产品侧面的外观异常不容易被发现的问题，通过设置斜面检测台和让位槽，可以斜放产品，便于确认产品侧面外观状况，可以清晰看到产品侧面是否异常，并且不会造成产品引脚变形。
主权项：1.一种Tray盘检测治具，用于对芯片100外观检测，包括Tray盘1，其特征在于，所述Tray盘1中间为检测放置台10，两侧为斜面检测台2；所述斜面检测台2向外倾斜，其放置斜面22和检测放置台10之间夹角为45°；所述斜面检测台2和检测放置台10连接处预留让位槽20，所述让位槽20形状为弧形，且匹配所述芯片100引脚；让位槽20内部涂抹透明软胶。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 合肥六角形半导体有限公司 一种Tray盘检测治具
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