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申请/专利权人：日东电工株式会社
摘要：提供能够高精度且高效地检查长条光学膜的长条光学膜的检查方法。本发明中检查的长条光学膜F被预先标记了与长条光学膜中的缺陷D的位置信息建立了关联的第一标识M。在本发明的宏观检查工序ST2中，通过读取第一标识，取得缺陷的位置信息，将拍摄视场比长条光学膜的宽度窄第一拍摄机构6的拍摄视场VF1的位置控制成能够拍摄该缺陷，拍摄长条光学膜，由图像处理机构8确定缺陷的准确的位置信息。在本发明的微观检查工序ST3中，基于在宏观检查工序中确定的缺陷的准确的位置信息，将与第一拍摄机构相比拍摄视场窄且拍摄倍率高的第二拍摄机构的拍摄视场VF2的位置控制成能够拍摄缺陷，拍摄长条光学膜，由图像处理机构8取得缺陷的详细信息。
主权项：1.一种长条光学膜的检查方法，在将长条光学膜沿长度方向输送的输送线中检查所述长条光学膜，其特征在于，具有：宏观检查工序，使用第一光学系统检查所述长条光学膜；以及微观检查工序，在所述宏观检查工序之后，使用第二光学系统检查所述长条光学膜，在所述长条光学膜上预先标记有与所述长条光学膜中的缺陷的位置信息建立了关联的第一标识，在所述宏观检查工序中，通过读取所述第一标识，取得所述长条光学膜中的缺陷的位置信息，基于所取得的所述缺陷的位置信息，将所述第一光学系统所具备的第一拍摄机构的拍摄视场的位置控制成能够拍摄所述缺陷之后，基于通过由所述第一拍摄机构拍摄所述长条光学膜而生成的拍摄图像，确定所述缺陷的准确的位置信息，所述第一拍摄机构的拍摄视场比所述长条光学膜的宽度窄，在所述微观检查工序中，基于在所述宏观检查工序中确定的所述缺陷的准确的位置信息，将所述第二光学系统所具备的第二拍摄机构的拍摄视场的位置控制成能够拍摄所述缺陷之后，基于通过由所述第二拍摄机构拍摄所述长条光学膜而生成的拍摄图像，取得所述缺陷的详细信息，所述第二拍摄机构相比于所述第一拍摄机构，拍摄视场窄且拍摄倍率高。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 日东电工株式会社 长条光学膜的检查方法
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