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申请/专利权人：四川大学
摘要：本发明涉及氚分析技术领域，提供一种高效、准确的BIXS分析方法、装置和设备，方法包括：1、对含氚样品均匀分成M层；2、解析获取衰减前的外轫致辐射X射线能谱；3、解析获取衰减前的特征X射线含量信息；4、解析获取衰减前的内轫致辐射X射线能谱；5、获取衰减前的氚β衰变X射线能谱；6、对每一层单独含氚时总的衰减前的氚β衰变X射线能谱进行衰减，并得到衰减后的每一层单独含氚时总的氚β衰变X射线能谱；7、获取含氚样品的实验氚β衰变X射线能谱；8、获取氚的深度分布信息及氚含量。本发明能高效、准确的实现氚的分析。
主权项：1.一种高效、准确的BIXS分析方法，其特征在于：包括以下步骤：S1、对厚度为T的含氚样品至上到下均匀分成M层；S2、解析获取每一层单独含氚时氚β衰变产生的衰减前的外轫致辐射X射线能谱k是X射线的能量，Ωγ是外轫致辐射光子的发射方向，Z是材料的原子序数；S3、解析获取每一层单独含氚时氚β衰变产生的衰减前的特征X射线含量信息S4、解析获取每一层单独含氚时氚β衰变产生衰减前的内轫致辐射X射线能谱S5、获取每一层单独含氚时总的衰减前的解析的氚β衰变X射线能谱S6、对每一层单独含氚时总的衰减前的氚β衰变X射线能谱进行衰减，并得到衰减后的每一层单独含氚时总的氚β衰变X射线能谱S7、获取含氚样品的实验氚β衰变X射线能谱Sk；S8、获取氚的深度分布信息及氚含量。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 四川大学 一种高效、准确的BIXS分析方法、装置和设备
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