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申请/专利权人：合肥康芯威存储技术有限公司
摘要：本发明提供一种闪存的测试系统及测试方法，测试系统包括温箱，温箱内设有闪存，温箱用以调节闪存周围的温度范围；控制器，在某组区块中，控制器对不同区块按照阶梯分布的编程擦除次数进行数据处理；其中，在某组区块进行阶梯分布的编程与擦除次数数据处理后，控制器在第一温度区间下，首先对某组区块进行宽温测试和数据保持测试，其次将某组区块进行擦除处理，然后在第二温度区间下，对某组区块进行宽温测试和数据保持测试，第二温度区间包括第一温度区间。本发明可在闪存于不同温度区间，保持最佳使用性能的前提下，获取其最大的使用寿命。
主权项：1.一种闪存的测试系统，其特征在于，包括：温箱，所述温箱内设有闪存，所述温箱用以调节所述闪存周围的温度范围，所述闪存包括多组区块；控制器，在某组区块中，所述控制器对不同区块按照阶梯分布的编程与擦除次数进行数据处理，一个所述编程与擦除次数表示区块经过一次写入、擦除处理；其中，在所述某组区块进行阶梯分布的编程与擦除次数数据处理后，所述控制器在第一温度区间下，首先对所述某组区块进行宽温测试和数据保持测试，其次将所述某组区块进行擦除处理，然后在第二温度区间下，对所述某组区块进行宽温测试和数据保持测试，所述第二温度区间包括所述第一温度区间；所述控制器生成所述某组区块在所述第一温度区间对应的第一测试数据，以及在所述第二温度区间对应的第二测试数据。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 合肥康芯威存储技术有限公司 一种闪存的测试系统及测试方法
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