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用于测试系统的探针 

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申请/专利权人:泰瑞达公司

摘要:一种用于测试系统的示例性探针包括:导体,该导体用以在该测试系统上的直流(DC)测试资源与信号迹线之间承载DC信号,其中该信号迹线用于承载去往和来自待测设备的该DC信号和交流(AC)信号;和电感器,该电感器与该导体串联连接。该探针中包括机构,该机构用于使该导体能够朝向该信号迹线或电连接至该信号迹线的引脚移动,以在该导体与该信号迹线之间形成电连接,从而使该测试资源能够将该DC信号传输至该信号迹线并且能够远离该信号迹线或该引脚移动,使得当该DC信号将不被传输至该信号迹线时,在该导体与该信号迹线之间不形成电连接。

主权项:1.一种用于测试系统的探针,所述探针包括:导体,所述导体被配置为在所述测试系统上的直流(DC)测试资源与信号迹线之间承载DC信号,所述信号迹线用于承载去往和来自待测设备(DUT)的所述DC信号和交流(AC)信号;电感器,所述电感器与所述导体串联连接,所述电感器用于禁止所述AC信号的传输并且用于允许所述DC信号的传输;和机构,所述机构用于使所述导体能够朝向所述信号迹线或电连接至所述信号迹线的引脚移动,以在所述导体与所述信号迹线之间形成电连接,从而使所述测试资源能够将所述DC信号传输至所述信号迹线并且能够远离所述信号迹线或所述引脚移动,使得当所述DC信号将不被传输至所述信号迹线时,在所述导体与所述信号迹线之间不形成电连接。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 泰瑞达公司 用于测试系统的探针

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