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申请/专利权人：是德科技股份有限公司
摘要：本申请公开了扫描测试系统及其控制装置和控制方法。所述控制方法将器件级测试模式转换为板级测试模式，包括以下步骤：解析所述第一标准的第一脚本文件，获得第一指令信息，所述第一指令信息描述多个器件级测试模式；将所述第一指令信息翻译成第二标准的第二指令信息；以及将所述多个器件级测试模式转换为多个板级测试模式。该控制方法提供一种高度自动化的方法，将器件级测试模式转换为板级测试模式。
主权项：1.一种用于扫描测试系统的控制方法，包括以下步骤：获得符合第一标准的第一指令信息；将所述第一指令信息翻译成器件级测试模式；以及将所述器件级测试模式转换为符合第二标准的板级测试模式，其中，所述获得符合第一标准的第一指令信息包括：解析符合第一标准的输入文件，获得所述第一指令信息，其中，将所述器件级测试模式转换为符合第二标准的板级测试模式包括：对于每个器件级测试模式，执行以下步骤以转换为一个板级测试模式，包括：获得扫描链上所有器件；获取每个器件的指令寄存器长度和BYPASS指令；获取目标器件之前和之后的器件；向相应的指令寄存器中输入指令，使得所述目标器件之前和之后的器件被BYPASS掉；以及将所述目标器件之前和之后的器件整合到所述扫描链中，并且其中所述第一标准为IEEE1687标准，所述第二标准为IEEE1149，所述第一指令信息为ICL和PDL指令信息。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 是德科技股份有限公司 扫描测试系统及其控制装置和控制方法
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