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一种在短路求值时生成MC/DC测试用例集的方法及系统 

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申请/专利权人:中国船舶集团有限公司第七一九研究所

摘要:本发明公开一种在短路求值时生成MCDC测试用例集的方法及系统,该方法包括:从已有测试用例集中,获取多个用例的条件表达式的取值,根据条件表达式的取值,及MCDC测试覆盖准则,生成满足MCDC测试覆盖准则的初始测试用例集;当已有测试用例集中存在测试用例不满足MCDC测试覆盖准则时,则根据已有测试用例的覆盖情况和决策路径,生成新的测试用例,并添加到所述初始测试用例集中,生成最终测试用例集;将待测代码划分成多个代码片段,设置代码片段短路求值判断模型,计算每个代码片段的短路求值判断指数,当超过判断阈值时,确定相对应的代码片段存在短路求值的情况,通过最终测试用例集对所述待测代码进行测试,否则,通过已有测试用例集进行测试。

主权项:1.一种在短路求值时生成MCDC测试用例集的方法,其特征在于,包括:从已有测试用例集中,获取多个用例的条件表达式的取值,根据条件表达式的取值,及MCDC测试覆盖准则,生成满足MCDC测试覆盖准则的初始测试用例集;当已有测试用例集中存在测试用例不满足MCDC测试覆盖准则时,则根据已有测试用例的覆盖情况和决策路径,生成新的测试用例,并添加到所述初始测试用例集中,生成最终测试用例集;将待测代码划分成多个代码片段,设置代码片段短路求值判断模型,计算每个所述代码片段的短路求值判断指数,当超过判断阈值时,则确定相对应的代码片段存在短路求值的情况,则通过所述最终测试用例集对所述待测代码进行测试,否则,通过所述已有测试用例集进行测试;其中,所述代码片段短路求值判断模型包括: ,其中,为短路求值判断指数,为条件表达式的数量,为第个条件表达式的左侧表达式的长度,为第个条件表达式的总长度,为第个条件表达式所在逻辑结构的嵌套层数,为第个条件表达式的变量数量,为第个条件表达式的右侧表达式的复杂度,为第个条件表达式的左侧表达式的变量数量,为第个条件表达式的左侧表达式的操作符数量,为代码片段中第个条件表达式涉及的整个代码片段的变量数量,为代码片段中第个条件表达式的左侧表达式中的递归层数,为第个条件表达式的右侧表达式中的函数调用深度,为代码片段的性能指数,为代码片段的可读性指数;计算代码片段的性能指数包括: ,其中,为代码片段的性能指数,为代码片段中条件表达式涉及的整个代码片段的变量数量,为代码片段的总行数,为代码片段中重复代码片段的数量,为代码片段中最深层次的嵌套结构的深度,为代码片段版本间的代码变化量,为代码片段中条件分支的数量;计算代码片段的可读性指数包括: ,其中,为代码片段的可读性指数,为代码片段的数量,为第个代码片段的性能指数,为代码片段中注释的总行数,为代码片段中第行注释的行数,为代码片段中的长行数,其中,长行数为超过字符数阈值的代码行数,为代码片段中缩进深度的平均值。

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