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一种弹簧针射频特性用S参数的测试装置 

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申请/专利权人:蓝泽半导体科技(芜湖)有限公司

摘要:本实用新型公开了一种弹簧针射频特性用S参数的测试装置,包括测试块,测试块上开有第一定位孔和多个第二定位孔;弹簧针和多个接地针分别设置在第一定位孔和多个第二定位孔内;测试块通过紧固组件设置在两个PCB板之间,弹簧针和接地针的两端分别与两个PCB板相接触;其中,所述弹簧针被压缩在两个所述PCB板之间;两个射频接口分别与两个PCB板接触,用于与测试设备相连;本实用新型利用两个PCB板将位于测试块内的弹簧针和信号针上下压紧,从而形成了一个类似于“三明治”的结构,上述结构可以模拟弹簧针在压缩下的状态,然后利用测试设备测得弹簧针的S参数,测出的S参数结果客观精准,并且避免探头接触方式顶伤的风险,成本也较低。

主权项:1.一种弹簧针射频特性用S参数的测试装置,其特征在于,包括:测试块1,所述测试块1上开有第一定位孔和多个第二定位孔;弹簧针2和多个接地针3,所述弹簧针2和多个所述接地针3分别设置在所述第一定位孔和多个第二定位孔内;两个PCB板4,所述测试块1通过紧固组件6设置在两个所述PCB板4之间,所述弹簧针2和所述接地针3的两端分别与两个所述PCB板4相接触;其中,所述弹簧针2被压缩在两个所述PCB板4之间;两个射频接口5,两个所述射频接口5分别与两个所述PCB板4接触,用于与测试设备相连。

全文数据:

权利要求:

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