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芯片封装及其制造方法 

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申请/专利权人:意法半导体国际公司

摘要:本公开涉及芯片封装及其制造方法。一种制造用于集成电路芯片的封装的方法,包括:a将集成电路芯片安装到支撑件;b在集成电路芯片之上形成第一抗蚀剂层,该第一抗蚀剂层具有出现在集成电路芯片的中心部分上的第一开口;c在第一抗蚀剂层之上形成第二抗蚀剂层,该第二抗蚀剂层具有第二开口,该第二开口具有出现在第一开口上的中心部分和出现在第一层上的外围部分;d在第二开口中布置透明板;以及e在第二抗蚀剂层和透明板之上形成第三抗蚀剂层,该第三抗蚀剂层具有出现在透明板的中心部分上的第三开口。

主权项:1.一种制造用于集成电路芯片的封装的方法,包括以下连续执行的步骤:a将集成电路芯片安装到支撑件的上表面,其中所述集成电路芯片包括:面向所述支撑件的上表面的下表面;至少一个像素,布置在所述集成电路芯片的上表面处,在所述集成电路芯片的上表面的中心部分中;以及第一电连接焊盘,布置在所述集成电路芯片的上表面的外围;b在所述支撑件的上表面和所述集成电路芯片的外围上形成第一抗蚀剂层,所述第一抗蚀剂层包括出现在所述集成电路芯片的上表面的中心部分上的第一贯穿开口;c在所述第一抗蚀剂层的上表面上形成第二抗蚀剂层,所述第二抗蚀剂层包括第二贯穿开口,所述第二贯穿开口具有出现在第一开口上的中心部分和出现在所述第一抗蚀剂层的上表面上的外围部分;d在第二开口中布置透明板,并且所述透明板由所述第一抗蚀剂层的上表面支撑;以及e在所述第二抗蚀剂层的上表面上形成第三抗蚀剂层,所述第三抗蚀剂层包括第三贯穿开口,所述第三贯穿开口出现在所述透明板的中心部分上并且定位在所述集成电路芯片的上表面的中心部分前面。

全文数据:

权利要求:

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