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申请/专利权人：三菱电机株式会社
摘要：非侵入式物质分析装置1具备光波导电路10、探测光源26以及光强度检测器30。光波导电路10具有样本载置区域19。探测光源26放射探测光27。光波导电路10包括被入射探测光27的第1光波导11、波导型环形谐振器12以及第2光波导13。光强度检测器30检测探测光27中的与第2光波导13光学地耦合的第1光27a的强度。
主权项：1.一种非侵入式物质分析装置，具备：光波导电路，具有包含样本载置区域的第1主面以及与所述第1主面相反的一侧的第2主面；激发光源，朝向载置于所述样本载置区域上的样本放射激发光；探测光源，放射探测光；以及第1光强度检测器，所述光波导电路包括：第1光波导，被入射所述探测光；波导型环形谐振器，与所述第1光波导光学地耦合；以及第2光波导，与所述波导型环形谐振器光学地耦合，所述第1光强度检测器与所述第2光波导光学地耦合，并且检测所述探测光之中的与所述第2光波导光学地耦合的第1光的强度。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 三菱电机株式会社 非侵入式物质分析装置
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