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半导体制造装置及半导体装置的制造方法 

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申请/专利权人:铠侠股份有限公司

摘要:本发明的实施方式涉及半导体制造装置及半导体装置的制造方法。根据一个实施方式,半导体制造装置具备对第1基板或第2基板的翘曲量的值进行计测的翘曲量计测部。所述装置还具备基于所述翘曲量的值来决定所述第1基板与所述第2基板之间的间隙的值的间隙决定部。所述装置还具备在使所述第1基板与所述第2基板贴合之前,将所述间隙控制为所述决定的值的贴合控制部。

主权项:1.一种半导体制造装置,具备:翘曲量计测部,其对第1基板或第2基板的翘曲量的值进行计测;间隙决定部,其基于所述翘曲量的值,决定所述第1基板与所述第2基板之间的间隙的值;以及贴合控制部,其在使所述第1基板与所述第2基板贴合之前,将所述间隙控制为所述决定的值。

全文数据:

权利要求:

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