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PAD表面粗糙度检测装置、修整器及抛光方法 

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申请/专利权人:北京晶亦精微科技股份有限公司

摘要:本发明提供了一种PAD表面粗糙度检测装置、修整器及抛光方法,属于晶圆抛光的技术领域,PAD表面粗糙度检测装置包括基座以及粗糙度传感器;所述基座内部中空;所述基座上开设有检测窗口;粗糙度传感器接在所述基座内部;所述粗糙度传感器的检测镜头通过所述检测窗口检测所述PAD表面的粗糙度。本发明提供的PAD表面粗糙度检测装置,通过基座将整体装置安装在指定位置,从而使PAD表面粗糙度传感器能够透过检测窗口实时检测PAD表面的粗糙度,以便能够实时并准确的判断PAD是否达到使用寿命,降低了判断误差。避免了PAD沟槽未充分磨光就判定废弃会造成的成本浪费和沟槽磨完还继续使用导致的严重影响晶圆抛光质量的问题。

主权项:1.PAD表面粗糙度检测装置,其特征在于,包括:基座1,内部中空;所述基座1上开设有检测窗口;及粗糙度传感器,连接在所述基座1内部;所述粗糙度传感器的检测镜头通过所述检测窗口检测PAD表面的粗糙度。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 北京晶亦精微科技股份有限公司 PAD表面粗糙度检测装置、修整器及抛光方法

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