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申请/专利权人：记忆科技(深圳)有限公司
摘要：本发明公开了提高SSD可测试性覆盖率的方法、装置、设备及介质，其中方法包括：建立库模型的管脚描述；对工具认为不可测试的点进行预处理，找出明显的工具认为不可测试的点；对找出的工具认为不可测试的点进行分析，以找出可以转成可测试的点。本发明通过对工具认为不可测试的点进行建模、分析，将一些工具认为不可测试的点变成可测试的点，提高了覆盖率，极大的提高了测试效率和准确性。
主权项：1.提高SSD可测试性覆盖率的方法，其特征在于，所述方法包括：建立模型库的管脚描述；对工具认为不可测试的点进行预处理，找出明显的工具认为不可测试的点；对找出的工具认为不可测试的点进行分析，以找出可以转成可测试的点；所述对找出的工具认为不可测试的点进行分析，以找出可以转成可测试的点的步骤，具体包括以下步骤：判断经过预处理之后的工具认为不可测试的点的管脚描述类型；根据管脚描述类型判断其对应的AU0和或AU.1的情况；根据AU0和或AU.1的情况判定是否可以转成可测试的点。
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权利要求：
百度查询： 记忆科技(深圳)有限公司 提高SSD可测试性覆盖率的方法、装置、设备及介质
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