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申请/专利权人：中国人民解放军国防科技大学
摘要：本发明公开了一种基于暗电流拟合的红外非均匀校正方法及系统，利用两点法预先标定出多个曝光时间的校正参数，然后以校正参数为依据判断坏点并标记，再对像素暗电流灰度值和曝光时间的关系进行线性拟合，在实时校正的过程中，用暗电流拟合值代替校正参数中的偏置、并选择与实际曝光时间最相近的一组校正参数作为增益，对所有正常响应的像素点进行线性校正，对坏点进行灰度值补偿得到最终的校正后红外图像。由于曝光时间的改变对偏置的影响很大，而增益参数相对稳定，特别是相差较小的曝光时间对应的增益几乎相同，采用暗电流拟合值代替偏置可以达到红外图像质量提升的目的。
主权项：1.一种基于暗电流拟合的红外非均匀校正方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、确定铟镓砷探测器的曝光时间范围为[tmin,tmax]，在该范围内均匀设置N个时间点tmin≤tp≤tmax,p＝1,2,…,N，在每一个曝光时间标定一组校正参数；tp为曝光时间；所述校正参数包括偏置和增益；S2、根据所述校正参数，判断并标记图像探测器上的坏点；所述坏点即无法正常响应的像素点；S3、在实际的曝光时间Δt，用暗电流DCijΔt代替校正参数中的偏置bij，使用曝光时间ts对应的kijts替代校正参数中的增益，利用下式计算校正后的灰度值DCijΔt＝KijΔt+Bij，Kij和Bij为暗电流拟合参数，gi′j为原始图像第i行、第j列像素点的灰度值， fi+x,j+y表示第i+x行、第j+y列像素点是否为坏点，fi+x,j+y＝1对应正常响应的像素点，fi+x,j+y＝0对应坏点，表示第i+x行、第j+y列像素点通过两点法校正后的灰度值，Wx,y表示补偿权重，表示坏点补偿后第i行、第j列像素点的灰度值，fijts＝1对应正常响应的像素点，fijts＝0对应坏点，x,y分别表示补偿窗口中周围像素点与坏点在横向和纵向的距离。
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百度查询： 中国人民解放军国防科技大学 基于暗电流拟合的红外非均匀校正方法及系统
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