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申请/专利权人：紫光同芯微电子有限公司
摘要：本申请涉及集成电路测试技术领域，公开一种用于RFID芯片的CP测试的系统、方法及装置，其中，系统包括：CP测试机台、NFC芯片和CP测试电路模块。NFC芯片与CP测试机台连接，用于实现CP测试机台与待测RFID芯片的RF通信。CP测试电路模块分别与CP测试机台、NFC芯片和待测RFID芯片连接，用于对待测RFID芯片进行CP测试。在CP测试环境中增加了用于处理RF通信的NFC芯片，将NFC芯片作为主控芯片，CP测试机台作为数字通信的控制中心，不仅降低了对于CP测试机台的资源要求，还简化了CP测试电路，进而提高了RFID芯片的CP测试的稳定性。
主权项：1.一种用于RFID芯片的CP测试的系统，其特征在于，包括：CP测试机台；NFC芯片，与CP测试机台连接，用于实现CP测试机台与待测RFID芯片的RF通信；CP测试电路模块，分别与CP测试机台、NFC芯片和待测RFID芯片连接，用于对待测RFID芯片进行CP测试。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 紫光同芯微电子有限公司 用于RFID芯片的CP测试的系统、方法及装置
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