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一种二极管芯片光电性能测试装置 

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申请/专利权人:江苏吉芯微电子科技有限公司

摘要:本实用新型公开了一种二极管芯片光电性能测试装置,包括支撑架,支撑架的底部固定安装有动力组件,动力组件的侧壁上通过螺纹连接有固定组件,固定组件的一侧设置有拆装组件;固定组件,包括移动块与滑槽,移动块通过螺纹连接在动力组件的侧壁上,滑槽开设在支撑架的顶部,移动块与滑槽之间滑动连接,本实用新型涉及二极管芯片测试技术领域;该二极管芯片光电性能测试装置,通过动力组件、固定组件、移动块、滑槽、夹板、L形板、弹簧合页和安装板,可以在对芯片进行固定的时候自动关闭透光板,使得检测起来会更加的便捷,且测试完毕之后可以自动将透光板打开,以便于将测试完毕的芯片取出来,使得测试工作更便捷,使用的效果会更佳。

主权项:1.一种二极管芯片光电性能测试装置,包括支撑架1,其特征在于:所述支撑架1的底部固定安装有动力组件2,所述动力组件2的侧壁上通过螺纹连接有固定组件3,所述固定组件3的一侧设置有拆装组件4;固定组件3,包括移动块31与滑槽32,所述移动块31通过螺纹连接在所述动力组件2的侧壁上,所述滑槽32开设在所述支撑架1的顶部,所述移动块31与所述滑槽32之间滑动连接,所述移动块31的一侧固定安装有夹板33,所述夹板33的顶部固定安装有L形板34,所述支撑架1的一侧设置弹簧合页35,所述弹簧合页35的一侧连接有安装板36,所述安装板36的一侧通过所述拆装组件4连接有透光板5。

全文数据:

权利要求:

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