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申请/专利权人：中科星图测控技术股份有限公司
摘要：本发明公开了一种基于天基光学测量数据处理与识别方法，包括以下步骤：S1，读取天基光学数据；S2，判断数据是否合理，不合理进行剔除，合理进入步骤S3；S3，对合理的数据进行数据转换；S4，进行初始轨道的确定；S5，若初始轨道确定成功，利用定轨结果与目标集中的tle进行比对识别，根据半长轴、偏心率、升交点赤经判定阈值条件，得到符合阈值条件的疑似目标；若初始轨道确定失败，将目标集中的tle进行外推反演，用指向数据与实测数据进行比对，给出赤经赤纬判定阈值条件，挑选符合阈值条件的疑似目标；S6，通过识别规则对疑似目标进一步剔除，找出最接近的目标，给出置信度评估，输出识别结果。本发明解决了天基观测数据量大、识别困难的问题。
主权项：1.一种基于天基光学测量数据处理与识别方法，其特征在于，包括以下步骤：S1，读取天基光学数据；S2，判断S1中读取的数据是否合理，若不合理，进行剔除，若合理进入步骤S3；S3，对筛选合理的数据进行数据转换；S4，根据步骤S3的结果，进行初始轨道的确定；S5，若初始轨道确定成功，利用定轨结果与目标集中的两行轨道根数tle进行比对识别，根据半长轴、偏心率、升交点赤经判定阈值条件，得到符合阈值条件的疑似目标；若初始轨道确定失败，将目标集中的tle进行外推反演，用指向数据与实测数据进行比对，给出赤经赤纬判定阈值条件，将符合阈值条件的疑似目标挑选出来；S6，通过识别规则对疑似目标进一步剔除，找出最接近的目标，并给出置信度评估，输出识别结果。
全文数据：
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百度查询： 中科星图测控技术股份有限公司 一种基于天基光学测量数据处理与识别方法
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