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申请/专利权人：中国计量大学;中国计量科学研究院
摘要：本发明公开一种基于差分法珀干涉仪测量万有引力常数方法和装置，包括以下步骤：步骤S1、通过吸引质量球使检验质量块发生微位移；步骤S2、差分法珀干涉仪放大测量检验质量块的微位移；步骤S2、信号处理器根据微位移信息，得到万有引力常数值。采用本发明的技术方案，实现万有引力常数测量。
主权项：1.一种基于差分法珀干涉仪测量万有引力常数方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤S1、通过吸引质量球使检验质量块发生微位移；步骤S2、差分法珀干涉仪放大测量检验质量块的微位移；步骤S2、信号处理器根据微位移信息，得到万有引力常数值；所述差分法珀干涉仪包含：激光光源、第一偏振分束镜、反射镜、可动方形检验质量镜、U型固定入射镜、公共角锥反射镜、扫描导轨、分光镜、第二偏振分束镜、第一光电探头和第二光电探头；其中，所述激光光源输出的频率及频差固定的两束相互垂直的线偏振光束，经过第一偏振分束镜分裂成第一透射光和第一反射光；第一透射光依次经过分光镜、吸引质量球上方通孔后，被可动方形检验质量镜再次分裂成第二反射光和第二透射光，其中，第二反射光原路返回再次通过吸引质量球上方通孔后由分光镜反射进入第二偏振分束镜，由第二光电探头接收；第二透射光经由公共角锥反射镜反射后依次经过可动方形检验质量镜、吸引质量球下方通孔后，由第一光电探头接收，形成法珀干涉周期信号；第一反射光经过反射镜和U型固定入射镜后，由公共角锥反射镜反射再次通过U型固定入射镜，通过第二偏振分束镜反射后与第二反射光耦合共路传播，由第二光电探头接收，形成差分法珀耦合干涉信号；所述U型固定入射镜和可动方形检验质量镜的内表面平行放置，且方形检验质量镜自由通过所述U型固定入射镜；所述U型固定入射镜和公共角锥反射镜构成固定法珀干涉仪，可动方形检验质量镜和公共角锥反射镜构成可动法珀干涉仪，固定法珀干涉仪和可动法珀干涉仪构成同轴结构的差分法珀干涉仪。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国计量大学 中国计量科学研究院 一种基于差分法珀干涉仪测量万有引力常数的方法和装置
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