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申请/专利权人：普铄电子(上海)有限公司
摘要：本实用新型涉及测试探针技术领域，且公开了一种两头均可测试的探针，包括连接块，所述连接块的内部开设有安装槽，所述安装槽的内部插接有连接管，所述连接管的内部滑动连接有连接杆一和连接杆二，所述连接杆一的上方固定安装有支座，所述支座的上方固定安装有针头一，所述连接杆二的底部固定安装有针头二。本实用新型通过在支座的上方固定安装有针头一，且在连接杆二的底部固定安装有针头二，同时在连接块的右侧固定安装有连接轴，当装置面对不同的电流性能的芯片进行检测时，可通过装置与连接轴连接，带动连接轴进行旋转，从而可以进行快速转换另一头的检测，提高了检测效率，且双头都可以使用。
主权项：1.一种两头均可测试的探针，包括连接块1，其特征在于：所述连接块1的内部开设有安装槽2，所述安装槽2的内部插接有连接管3，所述连接管3的内部滑动连接有连接杆一4和连接杆二7，所述连接杆一4的上方固定安装有支座5，所述支座5的上方固定安装有针头一6，所述连接杆二7的底部固定安装有针头二8，所述连接杆一4和连接杆二7靠近连接管3中心点的一侧均固定安装有限位板9，所述限位板9靠近连接管3中心点的一侧固定安装有弹簧10。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 普铄电子(上海)有限公司 一种两头均可测试的探针
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