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申请/专利权人：北京中测国宇科技有限公司

摘要：本发明涉及一种基于馈源阵列紧缩场的RCS多通道测量系统及方法，所述测量系统包括金属或非金属模型、反射面、馈源阵列、馈源转台、测试转台、矢量网络分析仪、射频收发单元、硬件门、主控计算机以及微波暗室；基于馈源阵列紧缩场的RCS多通道测量系统采用多个频段的馈源阵列及射频网络配合多台矢量网络分析仪进行RCS多通道同时测量，检测频段覆盖0.3～40GHz，从而实现全频段RCS多通道同时自动化测量，大幅提高了测试效率。

主权项：1.一种基于馈源阵列紧缩场的RCS多通道测量系统，所述测量系统运行在微波暗室（10）内，其特征在于，所述测量系统包括：金属或非金属模型（1）、反射面（2）、馈源阵列（3）、馈源转台（4）、测试转台（5）、矢量网络分析仪（6）、射频收发单元（7）、硬件门（8）、和主控计算机（9）；其中，所述金属或非金属模型（1）为待测试的样品，为全尺寸或缩比金属或非金属模型；所述馈源阵列（3）分别安装于馈源转台（4）的四个安装面，进行相应频段测试时把该频段的馈源阵列所在安装面转至反射面（2）的焦点位置或偏焦位置；其中，当采用0.3～0.8GHz单馈源时，所述单馈源安装于反射面（2）焦点位置；当采用0.8～2GHz双馈源时，所述0.8～2GHz双馈源水平排列安装在反射面（2）焦点两侧偏焦位置；当采用2～6GHz双馈源、6～12GHz双馈源、12～18GHz双馈源、18～26.5GHz双馈源、26.5～40GHz双馈源时，安装方式采用相对于反射面（2）焦点的对角安装；馈源阵列（3）发射球面波经反射面（2）后形成平面波，在馈源阵列（3）后方反射面轴线处形成圆柱形平面波区域，即静区；金属或非金属模型（1）放置在静区中进行测试；所述馈源转台（4）分四个安装面用于安装不同频段馈源；所述测试转台（5）用于架设金属或非金属模型（1）；所述射频收发单元（7）为不同频段和不同馈源极化射频链路提供切换操作以及进行功率放大；所述硬件门（8）通过调制开关在射频收发单元（7）的射频链路中形成时域距离门，用于在射频信号传输过程中滤除干扰信号；所述矢量网络分析仪（6）用于接收滤除干扰信号后的射频信号；所述主控计算机（9）采用标准工业控制计算机，用于通过交换机与矢量网络分析仪（6）进行信号传输，对RCS测量系统进行时序控制、数据采集和处理；所述微波暗室（10）用于提供无反射测试场地环境。

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