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申请/专利权人：乐金显示光电科技(中国)有限公司
摘要：本发明公开了一种显示面板不良分析方法、装置、电子设备和存储介质，当检出显示面板存在不良像素的缺陷时，确定不良像素的点坐标；获取不良像素在多个不同背光源下的多张表面放大图像，基于表面放大图像确定不良像素的表面异常因素，不良像素在多个不同背光源下可以呈现出不同的图像，不同背光源下的表面放大图像可以更充分、清楚地展示不良像素的浅表层的异常状态，则可以提高检测不良像素的表面异常因素的准确率；在检查不良像素的内部异常因素时，测量不良像素的电阻值，作为检测阻值；基于检测阻值确定不良像素的内部异常因素，通过具体的像素本身的属性参数来检测不良像素的内部异常因素，可以更为准确地检测不良像素的内部异常因素。
主权项：1.一种显示面板不良分析方法，其特征在于，包括：当检出显示面板存在不良像素的缺陷时，确定所述不良像素的点坐标；获取所述不良像素在多个不同背光源下的多张表面放大图像；基于所述表面放大图像确定所述不良像素的表面异常因素；测量所述不良像素的导体电阻值，作为检测阻值；基于所述检测阻值确定所述不良像素的内部异常因素。
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